Đại học Virginia Tech phát hiện phương pháp chẩn đoán lỗi có thể giúp cải thiện pin.
Theo thông tin từ các phương tiện truyền thông nước ngoài, nhóm hóa học tại Đại học Virginia Tech đã phát hiện ra một phương pháp quan sát các giao diện pin, nằm sâu bên trong lõi pin, chặt chẽ và phức tạp. Nhóm nghiên cứu do Feng Lin và Louis Madsen lãnh đạo. Nhà…